授時(shí)服務(wù)器內(nèi)部高穩(wěn)晶體振蕩器日老化率的闡述

晶體振蕩器日老化率表征的前提：

  在我國的授時(shí)服務(wù)器高穩(wěn)定度晶體振蕩器檢定規(guī)程和原子頻標(biāo)主要技術(shù)指標(biāo)的一般規(guī)定中，都規(guī)定日老化率和月漂移率用最小二乘法計(jì)算。老化率表征和測量要求在足夠的時(shí)間預(yù)熱后，老化效應(yīng)的頻率漂移是單方向變化的。也就是一個(gè)頻率源或者具有正的漂移率或者具有負(fù)的漂移率;并且在短時(shí)間內(nèi)，基本上呈現(xiàn)線性變化規(guī)律。

  授時(shí)服務(wù)器原子頻標(biāo)基本符合上述條件，大多數(shù)晶體振蕩器在一定時(shí)間預(yù)熱后也有一定的規(guī)律，經(jīng)足夠時(shí)間預(yù)熱后，在不太長的時(shí)間內(nèi)，老化漂移大多可近似為線性。

老化率基本公式的推導(dǎo)：

  在上述前提下，頻率源經(jīng)足夠時(shí)間預(yù)熱后，頻率隨時(shí)間的漂移率可以用直線方程來表達(dá)：

  從圖5一1中可以看出，頻率值隨時(shí)間變化曲線包含兩個(gè)部分:一部分如直線1所示，

  為單方向的線性漂移;另一部分是相對于線性漂移直線的頻率起伏，如曲線2所示.這種起伏反映的是頻率穩(wěn)定度，它是由振蕩器中的調(diào)頻閃變噪聲引起的，調(diào)頻閃變噪聲可以影響取樣時(shí)間極長的范疇，如日、月等。

  老化率的頻率漂移直線的斜率可以用最小二乘法來求得。最小二乘法就是最小平方法，它使得實(shí)測頻率值到此直線之間的距離的平方之和為最小值；這就是在高穩(wěn)定度品體振蕩器檢定規(guī)程中給出的基本公式。

  由于頻率值隨時(shí)間的變化并不僅僅是線性的，授時(shí)服務(wù)器晶體振蕩器往往是對數(shù)老化規(guī)律或倒數(shù)老化規(guī)律，因此從理論上講，每天測量的點(diǎn)數(shù)越多越好；但是從實(shí)際測量和計(jì)算的方便程度來講，又希望取得越少越好，通過大量的實(shí)驗(yàn)表明，每天測量的次數(shù)達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)就可以了，授時(shí)服務(wù)器原子頻標(biāo)的日漂移率遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于晶體振蕩器，因此一般按月漂移率給出，由于漂移率呈線性規(guī)律，因此月漂移率可以用日漂移率來推算。